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由主辦方主辦的JMP Discovery Summit 數(shù)據(jù)分析峰會(huì)于2015-05-15在會(huì)議指定場(chǎng)館舉辦。
首頁(yè)>演講嘉賓> Jon Weisz更新時(shí)間:2015-05-15
Jon Weisz 是 SAS全球副總裁。在擔(dān)任此職位之前,他曾是 JMP 的營(yíng)銷總監(jiān),并曾擔(dān)任 SAS 的軟件開發(fā)、營(yíng)銷和銷售支持經(jīng)理。1999 年他從 Allegro MicroSystems 轉(zhuǎn)投 SAS,在 Allegro MicroSystems 時(shí)曾擔(dān)任統(tǒng)計(jì)方法總監(jiān)。Weisz 先生在半導(dǎo)體、汽車制造和產(chǎn)品開發(fā)領(lǐng)域擁有豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。 他于 2008 年完成了哈佛商學(xué)院的綜合管理課程。Weisz 擁有密歇根大學(xué)生物統(tǒng)計(jì)學(xué)碩士學(xué)位和東密歇根大學(xué)數(shù)學(xué)學(xué)士學(xué)位。他是美國(guó)統(tǒng)計(jì)協(xié)會(huì)和美國(guó)質(zhì)量學(xué)會(huì)院?jiǎn)T,并經(jīng)常發(fā)表有關(guān)數(shù)據(jù)可視化、應(yīng)用統(tǒng)計(jì)和試驗(yàn)設(shè)計(jì)的演說。Weisz 先生曾撰寫多篇有關(guān)制造和產(chǎn)品開發(fā)領(lǐng)域應(yīng)用統(tǒng)計(jì)的論文,并且與他人合著了一本有關(guān)采用鏡像設(shè)計(jì)方法進(jìn)行試驗(yàn)設(shè)計(jì)的著作。
Jon Weisz出席會(huì)議日程
由主辦方主辦的JMP Discovery Summit 數(shù)據(jù)分析峰會(huì)于2015-05-15在會(huì)議指定場(chǎng)館舉辦。